Электронная микроскопия

 

 

Контроль размеров, формы и микроструктуры частиц методом электронной микроскопии.
Размеры, форма и микроструктура частиц существенно влияют на технологические свойства порошка. Для определения размеров, формы и микроструктуры частиц порошков (исходных и обработанных в планетарных мельницах) проводятся микроскопические исследования образцов. Микрофотографии образцов выполняются на просвечивающем электронном микроскопе Tesla BS 613C; фотографии также могут быть сделаны на сканирующем электронном микроскопе Supra 40VP (Carl Zeiss NTS GmbH, Германия). В первом случае тестируемые порошки наносятся из суспензии на прозрачные пленки толщиной до 100 нм. Во втором случае порошки помещают на проводящий клей, нанесенный на подложку.


Многофункциональный аналитический растровый электронный микроскоп Supra 40 с разрешением 1 нм, с системами микроанализа, охлаждения до гелиевых температур, с катодолюминесцентной спектроскопией, с системами наноманипулирования. 

В Наноцентре СПбГУ имеется также следующее оборудование:
Просвечивающий аналитический электронный микроскоп высокого разрешения Libra 200FE с разрешением 0.14 нм, с криодержателем и системой трехмерной топографии для биообъектов, с системой микроанализа.

Ионный гелиевый микроскоп «ORION» с разрешением 0.5 нм, с усиленным контрастом по атомному номеру, с огромной глубиной резкости (объемность изображения).  Этот прибор –единственный в РФ, ни один европейский университет не имеет подобного оборудования.

 

 
Active-nano (Andrey V. Petrov)